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MiniTest725/735/745涂层测厚仪涂层测厚仪 德国EPK
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技术参数
零位稳定:
涂层测厚仪测量前都要求校准零位,
可以在随仪器的校零板或未涂覆的工件上校零。
仪器零位的稳定是测量准确的前提。
一台好的测厚仪校零后,可以长时间保持零位不漂移,
准确测量
QuaNix4500德国尼克斯涂镀层测厚仪无需校准:
多数测厚仪除了校零外,还需要用标准片进行调校。测量某一范围厚度,要用某一范围的标准片调校。主要是不能满足全范围内的线性精度。不仅操作烦琐,而且也会因标准片表面粗糙失效,增大系统误差。
温度补偿:
涂覆层厚度的测量受温度影响大。同一工件在不同温度下测量会得出很大的误差。所以好的测厚仪应该具备温度补偿技术,以在不同温度下的测量精度。
红宝石探头:
探头接触点的耐磨性直接影响测量的精度。普通金属接触探头,其表面磨损后会带来很大的误差。
直流采样技术:
使得测量重复性较传统交流技术有提高。

详细描述:
1.测量钢铁等磁性金属基体上的非磁性涂层、镀层、氧化层,如油漆、粉末、塑料、橡胶、锌、铬、铝等;
2.测量铝、铜、锌、不锈钢等非磁性金属基体上的绝缘涂镀层,如油漆、瓷、塑料、珐琅氧化层等。
磁性/非磁性金属基体:用于4500
测量范围: 0-3000um
测量精度: 0-50um≤±1um,50-1000um≤±1.5/100,1000-3000um≤±2/100.
蕞小测量面积: 10x10mm
蕞小曲率:凸半径5mm
凹半径25mm
蕞小基材厚度:铁0.2mm非铁0.05mm
温度范围: 0-60度
显示: LCD
供电形式: 2个1.5V电池
体积: 100X60X27mm
重量:约110克
选型:
1.QNIX4200型:FE铁基一体式0-3000UM 测磁性基材上非磁性涂层
2.QNIX4500型:FNF两用型(磁性非磁性)一体式 0-3000UM测磁性基材上非磁性涂层+非磁性金属上非导电性涂层。
3.Qnix4200P3型 (分体式 Fe铁基探头0-3000um)
4.Qnix4200P5型 (分体式 Fe铁基探头0-5000um)
5.QNIX4500P3型 (分体式 Fe/Nfe两用探头 0-3000/0-3000um)
6.QNIX4500P5 (分体式 Fe/Nfe两用探头 0-5000/0-3000um)


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