（1）标准确认：可准确判别硅材料导电型号的电阻率范围：0.05～1000Ω·cm

（2）本仪器实际可测量硅材料电阻率范围：10-2～104 Ω·cm

（3）可测线度大于5mm的任意形状的硅块和硅片，样品长度、直径不受限制

（4）显示方式：由显示N和P字样的液晶器件直观指示半导体材料型号

（5）探采用耐磨的碳化钨硬金，直径0.8mm，每根有独立的加压机构，压力可在50～500克（单）范围内根据用户需要进行调整

（6）探间距：1.59mm（探直径0.8 mm）或1.00 mm（探直径0.5 mm）

（7）外型尺寸：210×100×230（宽×高×深，单位mm）

（8）重量：约3kg

（9）电源：交流 220V±10%，50HZ。功耗≤20W