便携式电阻率测试仪是用来测量硅晶块、晶片的电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。

本仪器按照半导体材料电阻率的及标准测试方法有关规定设计。它主要由电器测量部份（主机）及四探针头组成，需要时可加配测试架。

为减小体积，本仪器用同一块数字表测量电流及电阻率。样品测试电流由高精度的恒流源提供，可进行校准，以确保电阻率测量的准确度。因此本仪器不仅可以用来分选材料也可以用来作产品检测。对1～100Ω·cm标准样片的测量误差不过±3%

主要技术指标

（1）测量范围：

可测量电阻率：0.01～199.9Ω·cm

可测方块电阻： 0.1～1999Ω/□

当被测材料电阻率≥200Ω·cm数字表显示0.00

（2）恒流源：

输出电流：DC 0.1mA～10mA分两档

1mA量程：0.1～1mA 连续可调

10mA量程：1mA ～10mA连续可调

恒流精度：各档均优于±0.1%

（3）直流数字电压表

测量范围：0～199.9mv

灵敏度：100μV 

准确度：0.2%（±2个字）

（4）供电电源：

AC：220V ±10% 50/60HZ 功率8W

（5）使用环境： 

相对湿度≤80%

（6）重量、体积

重量：2.2Kg 

体积：宽210×高100×深240（mm）