主要特性与技术指标 主要优势

通过单次扫描实现： 无需通过多次扫描计算平均值

高测量速度

10 秒之内即可完成 C/L 频带中的完整测量（无需等待多个平均值）

稳定性不受光纤移动/振动和漂移的影响

 描述 

安捷伦制定了使用 N7788B 元器件分析仪进行元器件测量的限制， 其专有技术可与的琼斯矩阵本征法（JME），琼斯矩阵本征法是测量光器件的偏振模色散（PMD）或差分群时延（DGD）的标准方法。

安捷伦新的单次扫描技术具有一系列优点，可用于测试全套参数：

DGD/ PMD

PDL

功率/损耗

TE/TM 损耗

二阶 PMD

主偏振态（PSP）

琼斯和米勒矩阵

用于生产车间的设计

高吞吐量： 在 10 秒钟内对 C 和 L 频带进行分析！

软件驱动程序： 为系统的外部控制提供一系列软件驱动程序。 这有助于通用 ERP 系统中的轻松集成。

远程控制： 支持通过 LAN 或互联网对仪器进行控制， 实现自动操作和故障诊断。

生成： 支持生成 PDF 格式的。 用户可以配置的内容（包括版图）。

实时功率读数： 提供实时功率读数（支持新器件的光纤耦合），可以对非连接的器件进行高吞吐量测量。

条形码扫描仪： 支持使用条形码扫描仪快速传输被测器件的序列号。

我司高价长期收购进口二手仪器仪表：频谱分析仪、网络分析仪、信号发生器、万用表/示波器校准仪、手机综合测试仪、噪声系数分析仪、数据采集器、NI-GPIB卡、阻抗/LCR测试仪、基站测试仪、音频分析仪、蓝牙/WANL测试仪、天馈线测试仪、光谱分析仪/光类仪器、功率计等各类仪器仪表！联系电话 邓 ：（同微信号）