纳米软件ATECLOUD-IC芯片自动化测试系统适用于二极管、三极管、绝缘栅型场效应管、结型场效应管、单向和双向可控硅、普通和高速光耦、整流桥、共阴共阳二极管及多阵列器件等各类半导体分立器件综合性能自动化测试。

被测项目：温度测试、耐电压测试、引脚可靠性测试、ESD抗干扰测试、运行测试、X射线侵入测试等。

那么针对芯片的老化测试是如何进行的呢?以纳米软件的ATECLOUD-IC系统为例进行说明，测试时一般会使用芯片测试工装，然后将测试工装与测试仪器进行连接，仪器通过测试软件进行程控，将工装-仪器-软件共同由ATECLOUD-IC系统进行控制，测试的数据直接在云端储存，通过系统软件对数据进行整理分析，可快速的对芯片进行自动化的测试，同时避免人工记录而产生的误差，整体测试效率有了很好提升。

ATECLOUD-IC解决测试痛点

☁ 人工手动测试，效率低，需要提高测试效率和准确性;

☁ 测试产品种类繁多，测试方法多样，客户需要灵活的解决方案，以适应未来的变化和需求;

☁ 记录测试数据量大，容易出错，需要提高测试效率和准确性;

☁ 长时间测试，工作量大，需要提高测试效率;

☁ 现有软件系统迭代繁琐且耗时，不能持续兼容新产品;

☁ 需要满足特定的测试需求，如外购配件等;

☁ 需要符合自身芯片测试方法;

☁ 需要寻找国产化替代方案;

纳米软件的ATECLOUD-IC系统通过GPIB、RS232、LAN、USB等多种通讯方式集成多种类测试仪器，系统兼容多种品牌仪器型号，提高产品测试效率，测试数据智能分析，提高企业产品生产质量。