各种器件的I-V功能测试和特征分析，包括：

离散和无源元件

两抽头器件——传感器、磁盘驱动器头、金属氧化物可变电阻（MOV）、二极管、齐纳二极管、电容、热敏电阻

三抽头器件——小信号双极结型晶体管（BJT）、场效应晶体管（FET）等等

简单IC器件——光学器件、驱动器、开关、传感器

集成器件——小规模集成（SSI）和大规模集成（LSI）

模拟IC

射频集成电路（RFIC）

集成电路（ASIC）

片上系统（SoC）器件

光电器件，例如发光二极管（LED）、激光二极管、高亮度LED（HBLED）、垂直腔面发射激光器（VCSEL）、显示器。

介质耐受性

双极结型晶体管设计

结型场效应晶体管设计

金属氧化物半导体场效应晶体管设计

太阳能电池和 LED 设计

高电子迁移率晶体管设计

复合半导体器件设计

分析纳米材料和实验器件

碳纳米管的电测量标准

测量碳纳米管电气特性

提高纳米电子和分子电子器件的低电流测量

在低功率和低压应用中实现准确、可靠的电阻测量

纳米级器件和材料的电气测量

提高超高电阻和电阻率测量的可重复性