一、概述

介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至 低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。仪器遵从标准：GB/T5594.4-1985。

二、仪器的技术指标

1．Q值测量

   a．Q值测量范围：2～1023；

   b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；

c．标称误差

   2．电感测量范围：1nH～8.4H

3．电容测量：

   注：大于直接测量范围的电容测量见使用方法。

   4．信号源频率覆盖范围：

5．Q合格指示预置功能：预置范围：5～1000

   6．Q表正常工作条件

   a.  环境温度：0℃～+40℃；

   b．相对湿度：<80％；

   c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。

   7．消耗功率：约25W；

特别说明：为保护客户权益，我公司不在网站上做任何报价，以上内容价格图片仅为推广使用，不具备参考价值，根据不同客户的现场环境及不同需求有不同类型和组件可选择，具体价格请电询，以报价单为准。